日本Anritsu超輻射發(fā)光二極管SLD光源傳感器 Anritsu/安立 AM8P4005SL45C 特點(diǎn)介紹

SLD光源（Super Luminescent Diode：SLED）是一種兼具激光二極管的輸出功率、LED（發(fā)光二極管）的寬光譜寬度和低相干性的光源。

由于其發(fā)射的光具有與激光二極管類(lèi)似的狹窄有源層，因此與光纖具有出色的耦合性，并且具有介于 LD 和 LED 之間的特性。

OCT是光學(xué)相干斷層掃描（Optical Coherence Tomography）的縮寫(xiě)，它利用光學(xué)干涉現(xiàn)象來(lái)精確測(cè)量物體的表面粗糙度和活體生物體的斷層圖像，

從而實(shí)現(xiàn)非破壞性、非接觸性確認(rèn)的技術(shù)。與X射線(xiàn)相比，X射線(xiàn)的分辨率為0.1至1毫米，而OCT可以達(dá)到幾微米的分辨率，并且沒(méi)有輻射暴露的風(fēng)險(xiǎn)，因此在醫(yī)療應(yīng)用中得到廣泛應(yīng)用。

日本Anritsu超輻射發(fā)光二極管SLD光源傳感器 Anritsu/安立 AM8P4005SL45C 特點(diǎn)介紹

SLD 光源是 OCT 的最佳光源。SLD光源像ASE光源一樣發(fā)出自發(fā)發(fā)射光，因此它們具有較寬的光譜寬度并實(shí)現(xiàn)低相干性。寬光譜寬度還可以實(shí)現(xiàn)高測(cè)量分辨率和特別精確的成像。

工業(yè)OCT

原材料產(chǎn)品缺陷及缺陷的檢驗(yàn)：鐵板、薄膜等厚度、表面粗糙度的測(cè)量。檢查加工過(guò)程中是否有毛刺和劃痕

半導(dǎo)體缺陷/缺陷檢查：檢查抗蝕劑薄膜的均勻性、蝕刻波導(dǎo)高度、焊膏和粘合劑高度

醫(yī)學(xué)OCT

眼科OCT：眼底橫斷面結(jié)構(gòu)、視網(wǎng)膜檢查、眼軸長(zhǎng)度測(cè)量

血管內(nèi) OCT：比 IVUS（血管內(nèi)超聲）更高分辨率的斷層掃描